报告摘要
内部封装是指封装内部芯片与载体(引线框架或载板)之间的连接方式,载体则是芯片裸晶和印刷电路板(PCB)传递信号的管道。最常见的方式包括引线键合(WB, Wire Bonding)、载带自动焊(TAB, Tape Automated Bonding)及倒装封装(FC, Flip Chip),目前市场上应用最多的是引线键合(WB)和倒装封装(FC);外部封装是指载体(引线框架或载板)与PCB间的连接形式,是我们肉眼可见的封装外形,例如QFP(四边扁平封装)、QFN(无引脚四方扁平封装)、BGA(球栅阵列封装)及LGA(触点阵列封装)等。内部封装和外部封装可根据需求组合成不同类型的封装形式,如WBBGA、FCBGA等。
在先进封装的四要素中,Bump用来取代传统封装中的引线键合,主要起几面电气互联和应力缓冲的作用,当前先进封装无一例外均使用了Bump工艺;RDL起着XY平面电气延伸的作用,Interposer(中介层,以硅为主)也发挥相似作用,主要应用于晶圆级封装和2.5D/3D封装技术;Wafer作为集成电路的载体以及RDL和TSV的介质和载体,在2.5D封装中用于制作硅基板,也在WLP晶圆级封装中作为承载介质,用于在晶圆级完成RDL、凸块等封装工艺;TSV起着Z轴电气延伸的作用,是2.5D/3D封装技术实现的主要途径。从技术推出时间前后及先进性程度来看,排序为Bump、RDL、Wafer、TSV。
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